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Alicona InfiniteFocusSL表面形貌测量仪
三维表面形貌测量仪InfiniteFocus SLInfiniteFocus SL三维表面形貌测量仪由奥地利Alicona公司研发并生产,操作原理是世界领先的全自动变焦
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安东帕SurPASS固体表面ZETA电位测量仪
仪器简介: 仪器名称:ZETA电位分析仪 研究对象:纤维、薄膜、粉末、粒子、固体金属或非金属片等材料。 主要用途:测量材料的表面电荷,了解材料表面上的电荷状况,研究材料
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RadEye B20便携式α/β表面污染测量仪
用于测量α,β,γ,X辐射。加窗后,可以测量17KeV-3MeV的γ辐射,还可以区分α,β辐射。多种操作模式,9g氧化镥(50Bq/g,1.4nCi/g)刻度源。 探测器:GM计数管,窗直径44mm
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RadEye AB100便携式α/β表面辐射污染测量仪
RadEye AB100便携式α/β表面污染测量仪采用涂锌塑料闪烁体探测器,灵敏面积高达2500px2。多种操作模式,功耗低,NiMH电池可持续使用1000小时。 端窗:0.87 mg/cm2,覆铝
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比表面积测量仪
仪器简介:JW-004A两用型多功能仪器,技术参数:技术参数 原理方法:动态法测试、氮吸附BET法测试 功 能:直接对比法快速测定 Langmuir测定 碳黑外
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RadEye B20便携式α/β表面污染测量仪
用于测量α,β,γ,X辐射。加窗后,可以测量17KeV-3MeV的γ辐射,还可以区分α,β辐射。多种操作模式,9g氧化镥(50Bq/g,1.4nCi/g)刻度源。 探测器:GM计数管,窗直径44mm
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三维表面形貌测量仪
仪器简介:表面形貌的精准包括光学特性厚度及表面形貌三方面的测量.在半导体和平板显示领域,为了测量形貌,非接触式形貌测量技术被广泛研究. 在追求测量精准方面,K-MAC在解析度
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Alicona InfiniteFocusSL表面形貌测量仪
(Sa):50nm InfiniteFocus SL三维表面形貌测量仪由奥地利Alicona公司研发并生产,操作原理是世界领先的全自动变焦(Focus-Variation)技术,该技术是光学系统的小
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RadEye AB100便携式α/β表面辐射污染测量仪
RadEye AB100便携式α/β表面污染测量仪采用涂锌塑料闪烁体探测器,灵敏面积高达2500px2。多种操作模式,功耗低,NiMH电池可持续使用1000小时。 端窗:0.87 mg/cm2,覆铝
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马尔形貌轮廓表面粗糙度测量仪
测杆)/ 0.19 μm(175 mm 测杆)在 Z 方向,相对于测量系统:0.04 μm扫描长度开始(X 方向)0.2 mm取样角在平滑表面上,取决于偏差:后缘高至 88°,前缘高至 77°定位
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